La fluorescencia de rayos X (FRX) es una técnica espectroscópica no destructiva empleada para determinar la composición elemental de los materiales. Cuando los rayos X interactúan con los átomos del material, se emite una radiación característica que permite realizar un análisis cualitativo. Además, mediante la generación de curvas de calibración con materiales de referencia, es posible obtener resultados cuantitativos de alta precisión. El análisis por FRX ofrece resultados rápidos y exactos, lo que la convierte en una técnica indispensable en su campo. La FRX es ampliamente utilizada en las geociencias y en diversas industrias, como el control de calidad de materiales, el análisis de productos finales, la metalurgia, y la producción de cemento y vidrio, entre otros. Como usuario, resulta útil entender las bases de la FRX para su adecuada ejecución y análisis de resultados. El Laboratorio Nacional de Geoquímica y Mineralogía (LANGEM), del Instituto de Geología de la UNAM, cuenta con un laboratorio de Fluorescencia de Rayos X de alta producción de resultados de calidad. Dispone de un espectrómetro WD-FRX RIGAKU, así como de un equipo ED-FRX portátil con certificación.
Enfoque y objetivo: Conocer y utilizar el método de preparación de muestras fundidas y tabletas en polvo comprimido para análisis mediante fluorescencia de rayos X de dispersión de longitud de onda.
CONOCIMIENTOS Y HABILIDADES AL CONCLUIR EL CURSO:
Al finalizar el curso el participante:
Comprenderá la metodología para preparación de muestras para análisis de elementos mayores y elementos traza.
Conocerá los componentes fundamentales de un espectrómetro WD-FRX.
Perfil del participante: Estudiantes, académicos y profesionales interesados en aprender el método de preparación y análisis de muestras mediante la técnica de fluorescencia de rayos X. Para participar se requiere haber aprobado el curso teórico “Fundamentos de espectrometría de fluorescencia de rayos X” o cursos similares, o bien contar con los conocimientos abordados en ese curso.
Requisitos para obtener constancia académica:
Solo se otorgará constancia de participación asistencia
Asistencia del 100%
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Beca-estudiantes UNAM:
Requisitos:
Obligatorios:
1. Ser estudiante UNAM regular (contar con inscripción oficial del semestre),
2. Exposición de motivos,
3. Carta de recomendación de tutor(a) o responsable académico, con adscripción a la UNAM.
Tema1. Preparación de muestras | 2 horas 1.1 Molienda y homogenización
1.2 Preparación de muestras fundidas
1.3 Preparación de muestras en polvo comprimido
Tema 2. Instrumentación y análisis | 3 horas 2.1 Componentes
2.2 ED-FRX y WD-FRX
2.3 Curvas de calibración
Referencias bibliográficas recomendadas:
Bennett, H., Oliver, G. J., 1992, XRF analysis of ceramics, minerals, and allied materials: Wiley, 298 p.
Bertin, E., 2012, Principles and Practice of X-Ray Spectrometric Analysis: Springer US, 1077 p.
Jenkins, R., 2012, X-Ray Fluorescence Spectrometry: Wiley, 232 p.
Luis Manuel Sosa
Me encuentro muy satisfecho con el curso, a nivel teórico y practico, solo mejorar el audio del Q. Rufino en zoom ya que costaba trabajo entenderle.
$1,000.00 mxn
Participantes nacionales
Estudiantes: $400 Académicos: $800 Profesionales: $1,000 **La UNAM se reserva el cambio de fecha de la actividad en función del cupo mínimo**